本產(chǎn)品能同時(shí)測(cè)量磁性基材表面（如鋼和鐵）的非磁性涂鍍層（如油漆、陶瓷、鉻等），以及非磁性金屬基材表面的非導(dǎo)電鍍涂層（如油漆等）。本儀表內(nèi)置高精密一體化探頭，同時(shí)運(yùn)用電磁感應(yīng)和渦流效應(yīng)兩種原理，自動(dòng)檢測(cè)基材屬性并探測(cè)涂鍍層厚度，并通過點(diǎn)陣液晶快速顯示結(jié)果。同時(shí)，測(cè)量數(shù)據(jù)可分組保存，并實(shí)時(shí)顯示統(tǒng)計(jì)值。用戶可分別為每組設(shè)置上下限報(bào)警值、零校準(zhǔn)、多點(diǎn)校準(zhǔn)。全新的多點(diǎn)校準(zhǔn)和零校準(zhǔn)，讓您非常方便的隨時(shí)進(jìn)行校準(zhǔn)。標(biāo)準(zhǔn)化菜單，確保您非常容易的使用它。

 

　　塑料制品工業(yè)鍍層、電子材料鍍層（接插件、半導(dǎo)體、線路板、電容器等）、鋼鐵材料鍍層（鐵、鑄鐵、不銹鋼、低合金、表面處理鋼板等）、有色金屬材料鍍層（銅合金、鋁合金、鉛合金、鋅合金、鎂合金、鈦合金、貴金屬等）、其它各種鍍層厚度的測(cè)量及成分分析。

 

　　EXF鍍層測(cè)厚儀是無接觸無損測(cè)量，但裝置復(fù)雜昂貴，測(cè)量范圍較小。因有放射源，使用者必須遵守射線防護(hù)規(guī)范。X射線法可測(cè)極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號(hào)大于3的鍍層測(cè)量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測(cè)厚時(shí)采用。

 

　　EXF鍍層測(cè)厚儀可無損地測(cè)量磁性金屬基體（如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性涂層的厚度（如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等） 及非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上非導(dǎo)電覆層的厚度（如：琺瑯、橡膠、油漆、塑料等）。涂鍍層測(cè)厚儀具有測(cè)量誤差小、可靠性高、穩(wěn)定性好、操作簡(jiǎn)便等特點(diǎn)，是控制和保證產(chǎn)品質(zhì)量*的檢測(cè)儀器，廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。

 

　　塑料工業(yè)電鍍、電子材料、電鍍（連接器、半導(dǎo)體、電路板、電容器等），鋼鐵材料涂層（鐵、鑄鐵、不銹鋼、合金、低表面處理鋼板，等等）和有色金屬材料涂層（銅合金、鋁合金、鉛合金、鋅合金、鎂合金、鈦合金、貴金屬等）和各種其他涂層厚度測(cè)量和成分分析。EXF鍍層測(cè)厚儀是一種非接觸式無損檢測(cè)方法，但該裝置復(fù)雜、成本高、測(cè)量范圍小。由于有放射源，用戶必須遵守輻射防護(hù)規(guī)定。X射線法可測(cè)量極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。射線法適用于涂層和基體原子序數(shù)大于3的涂層測(cè)量。電容法僅用于測(cè)量薄導(dǎo)電體上絕緣涂層的厚度。

 

　　EXF鍍層測(cè)厚儀測(cè)量磁性金屬基體條件（如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼、等）的磁性涂層厚度（如鋁、鉻、銅、搪瓷、等）、橡膠、油漆和非磁性金屬基質(zhì)（如銅、鋁、鋅、錫等）在導(dǎo)電涂層厚度（如：搪瓷、塑料、橡膠、油漆、等）。涂層測(cè)厚儀具有測(cè)量誤差小、可靠性高、穩(wěn)定性好、操作方便等特點(diǎn)。EXF鍍層測(cè)厚儀主要用于測(cè)量金屬材料的涂層厚度。但是，由于測(cè)量對(duì)象、測(cè)量方法、測(cè)量環(huán)境、儀器設(shè)備等因素引入了大量的測(cè)量誤差，為了保證測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性，有必要進(jìn)行不確定性分析。

 

　　EXF鍍層測(cè)厚儀中原子的性質(zhì)是由原子序數(shù)決定的，即軌道中質(zhì)子數(shù)或電子數(shù)，具體x射線能量與原子序數(shù)的關(guān)系如圖所示。K輻射的能量遠(yuǎn)高于L輻射的能量。涂層厚度的測(cè)量方法主要有楔切法、光學(xué)截?cái)喾?、電解法、厚度差測(cè)量法、稱重法、x射線熒光法、射線背散射法、電容法、磁性測(cè)量法和渦流測(cè)量法。前五種方法都是有損檢測(cè)，測(cè)量手段繁瑣、速度慢，更適合抽樣檢查。

 

　　EXF鍍層測(cè)厚儀采用X熒光分析技術(shù)，可測(cè)量各種金屬涂層的厚度，包括單層、雙層、多層、合金涂層等。EXF涂層測(cè)厚儀是一種能譜分析方法，屬于物理分析方法。當(dāng)樣品受到X射線照射時(shí)，樣品中所含涂層或基體材料元素的原子受到激發(fā)后會(huì)發(fā)射出自己*的X射線。不同的元素有不同的X射線特性。當(dāng)探測(cè)器探測(cè)到這些特征x射線時(shí)，它會(huì)把它們的光信號(hào)轉(zhuǎn)換成模擬電信號(hào)。模擬電信號(hào)經(jīng)模數(shù)轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)，送入計(jì)算機(jī)進(jìn)行處理。根據(jù)計(jì)算機(jī)應(yīng)用軟件獲得的譜峰信息，通過數(shù)據(jù)處理確定鍍層樣品中各元素的類型和各元素的厚度。

 

　　EXF鍍層測(cè)厚儀的相關(guān)工作原理之近年來的電路設(shè)計(jì)引入穩(wěn)頻、鎖相、溫度補(bǔ)償?shù)鹊匦录夹g(shù)，利用磁阻來調(diào)制丈量信號(hào)。還采用設(shè)計(jì)的集成電路，引入微機(jī)，使丈量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的進(jìn)步（幾乎達(dá)一個(gè)數(shù)目級(jí)）。

 

　　EXF鍍層測(cè)厚儀的技術(shù)性，鍍層測(cè)厚儀的技術(shù)簡(jiǎn)要介紹了涂鍍層測(cè)厚技術(shù)的發(fā)展現(xiàn)狀及時(shí)代特征，重點(diǎn)介紹了目前國內(nèi)外磁性涂鍍層測(cè)厚儀典型產(chǎn)品 的功能特點(diǎn)，初步探討了涂鍍層測(cè)厚技術(shù)的未來發(fā)展趨勢(shì)。 磁性涂鍍層測(cè)厚儀 厚度測(cè)量是涂鍍層物性檢測(cè)的重要項(xiàng)目之一，新型工程材料開發(fā)，微電子技術(shù)應(yīng)用和標(biāo)準(zhǔn)化事業(yè)進(jìn)展，涂鍍層測(cè)厚技術(shù)近幾年來在國內(nèi)外得到迅速發(fā)展。

 

　　與此同時(shí)，采取多種原理，應(yīng)用范圍廣泛，有較高科技含量，日趨智能化的各類測(cè)厚儀相繼問世，有力地推動(dòng)了工程物理檢測(cè)的發(fā)展。與*技術(shù)和同類產(chǎn)品相比，面對(duì)入世和經(jīng)貿(mào)一體化的挑戰(zhàn)，我們當(dāng)奮起直追，增強(qiáng)參與競(jìng)爭(zhēng)的適應(yīng)力和創(chuàng)新意識(shí)，搶抓機(jī)遇，努力實(shí)現(xiàn)測(cè)厚技術(shù)的跨越式發(fā)展。 涂鍍層測(cè)厚技術(shù)發(fā)展現(xiàn)狀 測(cè)量方法原理多樣化 涂鍍層厚度測(cè)量，方法多樣，測(cè)試原理各不相同。在國家標(biāo)準(zhǔn)，將涂蓋層厚度測(cè)量方法分為無損法和破壞法兩類。

 

　　EXF鍍層測(cè)厚儀的相關(guān)工作原理之磁性原理測(cè)厚儀可應(yīng)用來丈量鋼鐵表面的油漆層，瓷、搪瓷防護(hù)層，塑料、橡膠覆層，包括鎳鉻在內(nèi)的各種有色金屬電鍍層，以及化工石油待業(yè)的各種防腐涂層。

 

　　EXF鍍層測(cè)厚儀產(chǎn)品采用電渦流原理的測(cè)厚儀，原則上對(duì)所有導(dǎo)電體上的非導(dǎo)電體覆層均可丈量，如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽極氧化膜。覆層材料有一定的導(dǎo)電性，通過校準(zhǔn)同樣也可丈量，但要求兩者的導(dǎo)電率之比至少相差3-5倍（如銅上鍍鉻）。

 

　　固然鋼鐵基體亦為導(dǎo)電體，但這類任務(wù)仍是采用磁性原理丈量較為合適。

 

　　高頻交流信號(hào)在測(cè)頭線圈中產(chǎn)生電磁場(chǎng)，測(cè)頭靠近導(dǎo)體時(shí)，就在其中形成渦流。測(cè)頭離導(dǎo)電基體愈近，則渦流愈大，反射阻抗也愈大。這個(gè)反饋?zhàn)饔昧勘碚髁藴y(cè)頭與導(dǎo)電基體之間間隔的大小，也就是導(dǎo)電基體上非導(dǎo)電覆層厚度的大小。因?yàn)檫@類測(cè)頭丈量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度，所以通常稱之為非磁性測(cè)頭。非磁性測(cè)頭采用高頻材料做線圈鐵芯，例如鉑鎳合金或其它新材料。與磁感應(yīng)原理比較，主要區(qū)別是測(cè)頭不同，信號(hào)的頻率不同，信號(hào)的大小、標(biāo)度關(guān)系不同。與磁感應(yīng)測(cè)厚儀一樣，渦流測(cè)厚儀也達(dá)到了分辨率0.1um，答應(yīng)誤差1%，量程10mm的高水平。

 

　　磁感應(yīng)丈量原理采用磁感應(yīng)原理時(shí)，利用從測(cè)頭經(jīng)由非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。EXF鍍層測(cè)厚儀利用磁感應(yīng)原理的測(cè)厚儀，原則上可以有導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁覆層厚度。一般要求基材導(dǎo)磁率在500以上。假如覆層材料也有磁性，則要求與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大（如鋼上鍍鎳）。當(dāng)軟芯上繞著線圈的測(cè)頭放在被測(cè)樣本上時(shí)，EXF鍍層測(cè)厚儀自動(dòng)輸出測(cè)試電流或測(cè)試信號(hào)。早期的產(chǎn)品采用指針式表頭，丈量感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)的大小，儀器將該信號(hào)放大后來指示覆層厚度。